VLSI testing.

Saved in:
Williams, T. W., (editor)
Amsterdam : North Holland, 1986.
IX, 275 S.
englisch
0444878904
9780444878953
0444878955
9780444878908
Advances in CAD for VLSI ; vol 0005.
VLSI : function test
LEADER 00712cam a2200241 n 4500
001 114215
005 20010308091100.0
008 r1986
020 |a 0444878955 
020 |a 0444878904 
035 |a (Sirsi) a102026 
084 0 |a TBL - VLSI  |2 ZB 
245 0 0 |a VLSI testing. 
260 |a Amsterdam :   |b North Holland,   |c 1986. 
300 |a IX, 275 S. 
490 0 |a Advances in CAD for VLSI ;   |v vol 0005. 
500 |a englisch 
596 |a 1 
653 |a VLSI : function test 
700 1 |a Williams, T. W.,   |e Hrsg. 
900 |a B 059608'01'-005 
908 |a Monographie, Sammelwerk 
949 |a B 059608'01'-005  |w LC  |c 1  |i 1086003591  |d 8/3/2001  |l STACKS  |m ZB  |r Y  |s Y  |t ZBB  |u 25/3/2009  |x ZB-T  |1 PRINT