Si/SiO2 intrinsic states and interface charges chapter : 0002: the measurement methods.

Saved in:
Fahrner, W. R.
Klausmann, E. / Braeunig, D.
Berlin : Hahn-Meitner-Institut Berlin, 1987.
136 S.
englisch
Berichte des Hahn-Meitner-Instituts ; vol 0444.

ZB
Open Stacks (Cellar) Call Number: HMI-B-444 Barcode: 6133000815 Available