Electronics reliability and measurement technology: conference: proceedings : Hampton, VA, 03.06.86-05.06.86.

Saved in:
Heyman, J. S., (editor)
Washington, DC : NASA, 1987.
IX, 139 S.
englisch
NASA conference publication ; vol 2472.
LEADER 00886nam a2200241 n 4500
001 122808
005 19970518000000.0
008 r1987
035 |a (Sirsi) a109276 
084 0 |a FGMH - Metallization, physics of microelectronics  |2 ZB 
245 0 0 |a Electronics reliability and measurement technology: conference: proceedings :   |b Hampton, VA, 03.06.86-05.06.86. 
260 |a Washington, DC :   |b NASA,   |c 1987. 
300 |a IX, 139 S. 
490 0 |a NASA conference publication ;   |v vol 2472. 
500 |a englisch 
596 |a 1 
700 1 |a Heyman, J. S.,   |e Hrsg. 
710 2 |a United States.  |b National Aeronautics and Space Administration. 
710 2 |a Langley Research Center (Hampton, Va.) 
901 |a N87-27204 
901 |a L-16315 
908 |a Konferenz 
949 |a N87-27204  |w LC  |c 1  |i 6133201652  |l STACKS  |m ZB  |r Y  |s Y  |t ZBB  |u 25/3/2009  |x ZB-F  |1 PRINT  |2 KONFERENZ