Cover Image

Transmission electron microscopy. 2. Diffraction / David B. Williams and C. Barry Carter.

Saved in:
Table of Contents
Williams, David B.
Carter, C. Barry.
New-York, NY : Plenum Pr., 1996.
S. 177-345.
englisch
030645324X
9780306452475
0306452472
9780306453243
Transmission electron microscopy ; 2.
transmission electron microscopy
materials characterization
FHG - Electron microscopy
FHG - Elektronenmikroskopie
LEADER 01464cam a2200337 n 4500
001 145983
005 20060516111700.0
008 r1996
020 |a 0306452472 
020 |a 030645324X 
035 |a (Sirsi) a129737 
084 0 |a FHG - Electron microscopy  |2 ZB 
084 1 |a FHG - Elektronenmikroskopie  |2 LS 
245 0 0 |a Transmission electron microscopy.  |n 2.  |p Diffraction /   |c David B. Williams and C. Barry Carter. 
260 |a New-York, NY :   |b Plenum Pr.,   |c 1996. 
300 |a S. 177-345. 
490 0 |a Transmission electron microscopy ;   |v 2. 
500 |a englisch 
596 |a 1 26 
650 4 |a transmission electron microscopy 
650 4 |a materials characterization 
700 1 |a Williams, David B. 
700 1 |a Carter, C. Barry. 
856 |u http://wwwzb.fz-juelich.de/contentenrichment/inhaltsverzeichnisse/bis2009/ISBN-0-306-45324-X-Vol2.pdf  |z Inhaltsverzeichnis 
900 |a B 077387'01'-002 
900 |a FHG 047-02 
908 |a Lehrbuch 
949 |a B 077387'01'-002  |w LC  |c 1  |i 1098100669  |d 10/12/1999  |l STACKS  |m IFF  |r Y  |s Y  |t INSTB  |u 25/3/2009  |x INST-F  |1 PRINT  |2 HB 
949 |a B 077387'01'-002  |w LC  |c 2  |i 1202100426  |d 25/2/2003  |l STACKS  |m IFF  |r Y  |s Y  |t INSTB  |u 25/3/2009  |x INST-F  |1 PRINT  |2 HB 
949 |a B 077387'01'-002  |w LC  |c 3  |i 1206100744  |d 16/5/2006  |l STACKS  |m IFF  |r Y  |s Y  |t INSTB  |u 25/3/2009  |x INST-F  |1 PRINT  |2 HB 
949 |a FHG 047-02  |w LC  |c 1  |i 1096103093  |d 4/3/2016  |e 17/2/2016  |l STACKS  |m ZB  |n 74  |r Y  |s Y  |t ZBB  |u 25/3/2009  |x ZB-F  |1 PRINT  |2 HB