Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs/GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie / Markus Lentzen

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Lentzen, Markus, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996
217 Seiten
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3324
Zugleich: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen

ZB
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