Tieftemperatur-Rasterelektronenmikroskopie : Entwicklung eines hochstabilen Gerätekonzepts zur Untersuchung dynamischer Oberflächenprozesse und zur Analyse und Handhabung einzelner Atome und Moleküle zwischen 4 und 300 Kelvin / von Jörg Buisset

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Buisset, Jörg
Berlin : Wissenschaft und Technik Verl., 1996
232 S.
deutsch
392894374X
9783928943741
Zugl.: Berlin, Univ., Diss., 1996
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