Grundlagen und Anwendung der Röntgen-Feinstruktur-Analyse
X-ray fine structure analysis: fundamentals and applications :
Saved in:
Personal Name(s): | Neff, Hans |
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Edition: |
2., verb. Aufl. |
Imprint: |
München :
Oldenbourg,
1962
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Physical Description: |
460 S. |
Note: |
deutsch |
Subject (ZB): | |
Classification: | |
Shelf Classification: |