Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung : mit 16 Literaturstellen / von D. Bräunig; H. G. Wagemann

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Wagemann, Hans G.
Bräunig, Dietrich
Als Ms. gedr.
München : ZLDI, 1970
28 S. : graph. Darst.
deutsch
Forschungsbericht W / Bundesministerium für Bildung und Wissenschaft ; 70-23

ZB
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