Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung : mit 16 Literaturstellen / von D. Bräunig; H. G. Wagemann
Saved in:
Personal Name(s): | Wagemann, Hans G. |
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Bräunig, Dietrich | |
Edition: |
Als Ms. gedr. |
Imprint: |
München :
ZLDI,
1970
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Physical Description: |
28 S. : graph. Darst. |
Note: |
deutsch |
Series Title: |
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Forschungsbericht W / Bundesministerium für Bildung und Wissenschaft ;
70-23 |
ZB | |
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