Wagemann, H. G., & Bräunig, D. (1970). Untersuchung des niederfrequenten Rauschverhaltens und der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit von MOS-Strukturen unter der Wirkung ionisierender Bestrahlung: Mit 16 Literaturstellen / von D. Bräunig; H. G. Wagemann (Als Ms. gedr.). München: ZLDI.
Chicago Style CitationWagemann, Hans G., andfavorite Dietrich Bräunig. Untersuchung Des Niederfrequenten Rauschverhaltens Und Der Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit Von MOS-Strukturen Unter Der Wirkung Ionisierender Bestrahlung: Mit 16 Literaturstellen / Von D. Bräunig; H. G. Wagemann. Als Ms. gedr. München: ZLDI, 1970.
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