Photothermische Deflexions-Spektroskopie als Charakterisierungsmethode für Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von amorphem Silizium [E-Book] / Niklas Höhne
Saved in:
Full text JuSER |
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Personal Name(s): | Höhne, Niklas, author |
Imprint: |
Jülich :
Forschungszentrum, Zentralbibliothek,
1998
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Physical Description: |
1 Online-Ressource (94 Seiten) |
Note: |
deutsch |
Series Title: |
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Berichte des Forschungszentrums Jülich ;
3439 |
Dissertation Note: |
Zugleich: Diplomarbeit
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Keywords: |
photothermal deflection spectroscopy as a method to characterise thin layer solar cells based on amorphous silicon |
Subject (ZB): | |
Classification: |
Description not available. |