Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium [E-Book] / Markus Thönissen
Thönissen, Markus, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1994
1 Online-Ressource (IV, 137 Seiten)
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 2979
Zugleich: Diplomarbeit, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
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JuSER
spectroscopic characterization of layers and layer systems of porous silicon