Untersuchungen an dünnen Schichten mit Photoelektronenbeugung und Rastertunnelmikroskopie [E-Book] / Volker Scheuch
Scheuch, Volker, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996
1 Online-Ressource (II, 162 Seiten)
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3228
Zugleich: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
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JuSER
analysis of thin layers with photoelectron diffraction and scanning tunnel microscopy