Charakterisierung epitaktischer GaAs/AlGaAs-Schichtsysteme mittels Streuung harter Röntgenstrahlen unter streifendem Einfall sowie Röntgenbeugung [E-Book] / Uwe Klemradt
Klemradt, Uwe, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1994
1 Online-Ressource (144 Seiten)
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 2894
Zugleich: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
Full Text
JuSER
Characterization of epitaxial gaas/algaas layer systems using hard x-ray scattering under grazing incidence and x-ray diffraction