Anwendung der hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektroskopie zum Studium von Halbleiterschichtsystemen [E-Book] / von Arnold Förster
Förster, Arnold, ( Verfasser)
Jülich : Kernforschungsanlage, Zentralbibliothek, 1988
1 Online-Ressource (104 Seiten)
deutsch
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich ; 2247
Zugleich: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen
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JuSER
study of semiconductor layer systems by high resolution electron energy loss spectroscopy (hreels).