Tiefenprofilanalytik an Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von amorphem Silizium mittels der Massenspektrometrie zerstäubter Neutralteilchen und der Sekundärionen Massenspektrometrie [E-Book] / Michael Gastel
Gastel, Michael, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1996
1 Online-Ressource (99 Seiten)
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3248
Zugleich: Dissertation, Universität Düsseldorf
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JuSER
analysis of thin film solar cells, based on amorphous silicon, with SIMS ( secondary ion mass spectroscopy )