Development of ellipsometric microscopy as a quantitative high-resolution technique for the investigation of thin films at glass-water and silicon-air interfaces [E-Book] / Felix Linke
Linke, Felix, (Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2004
1 Online-Ressource (133 Seiten)
englisch
9783893363735
3893363734
Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Materie und Material / matter and materials ; 23
Zugleich: Dissertation, Technische Universität München, 2004
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JuSER
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