Das Verhalten von Halbleiterbauelementen bei tiefen Temperaturen / von B. Lengeler ; S. Matula ; J. Spormann ; G. Durcansky

Saved in:
Lengeler, Bruno, ( Verfasser)
Matula, S., ( Verfasser) / Spormann, J., ( Verfasser) / Durcansky, G., ( Verfasser)
Jülich : Kernforschungsanlage, Zentralbibliothek, 1973
47, [56] Seiten
deutsch
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich ; 1021
semiconductor : engineering aspect : low temperature
low temperature : tunnel diode : semiconductor counter : transistor : field effect transistor
nmr : measuring method
magnetic field : low temperature : measuring method

ZB
Open Stacks (Cellar) Call Number: JUEL-1021 Barcode: 6133119842 Available