Spurenanalytik beim Herstellungsprozess von Siliciumdetektoren mit Hilfe der Neutronen- Aktivierungsanalyse.
Trace analysis of silicium detectors by neutron activation analysis
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Personal Name(s): | Boehm, G. |
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Imprint: |
Muenchen :
Technische Universitaet Muenchen.
|
Physical Description: |
129 S. |
Note: |
deutsch |
Subject (ZB): | |
Classification: |
LEADER | 00924cam a2200265 n 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | 26858 | ||
005 | 19970418000000.0 | ||
035 | |a (Sirsi) a33230 | ||
084 | 0 | |a CTOD - Activation analysis |2 ZB | |
084 | 0 | |a CTYM - Trace analysis |2 ZB | |
245 | 0 | 0 | |a Spurenanalytik beim Herstellungsprozess von Siliciumdetektoren mit Hilfe der Neutronen- Aktivierungsanalyse. |
260 | |a Muenchen : |b Technische Universitaet Muenchen. | ||
300 | |a 129 S. | ||
500 | |a deutsch | ||
520 | |a Trace analysis of silicium detectors by neutron activation analysis | ||
596 | |a 1 | ||
650 | 4 | |a trace analysis | |
650 | 4 | |a neutron absorption analysis | |
650 | 4 | |a activation analysis | |
650 | 4 | |a silicon detector | |
700 | 1 | |a Boehm, G. | |
710 | 2 | |a Technische Universität (München) | |
900 | |a B 067905'01' | ||
908 | |a Hochschulschrift | ||
949 | |a B 067905'01' |w LC |c 1 |i 1091100897 |d 28/4/1997 |l STACKS |m ZB |r Y |s Y |t ZBHS |u 25/3/2009 |x ZB-C |1 PRINT |2 HS |