Fortschrittliche REM Analyse in der Hochtechnologie, Werkstofforschung, Schadensanalyse, Qualitätssicherung : Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialforschung. 0013: Vorträge : München, 18.04.88-20.04.88.
scanning electron microscopy (sem) analysis in advanced technology, materials research, failure analysis and quality control
Saved in:
Personal Name(s): | Thien, V., editor |
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Imprint: |
Berlin :
Deutscher Verband fuer Materialpruefung,
1988.
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Physical Description: |
405 S. |
Note: |
deutsch englisch |
Series Title: |
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Vortragsveranstaltung des Arbeitskreises Rastermikroskopie in der Materialprüfung ;
0013. |
Subject (ZB): | |
Classification: |
ZB | |
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Open Stacks Call number: B 053996'01'-013 Barcode: 1091101608 Available |