Scanning electron microscopy 1980,4 : Chicago, IL, 21.04.80-25.04.80 : An internatational journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications.

Saved in:
Johari, O., (editor)
AMF-O'Hare, IL : Scanning Electron Microscopy, 1980.
III, 220 S.
englisch
9780931288142
0931288150
0931288142
9780931288159
Scanning electron microscopy ; 1980,4.
scanning : microscope
LEADER 00944cam a2200241 n 4500
001 65140
005 20020801120100.0
008 r1980
020 |a 0931288142 
020 |a 0931288150 
035 |a (Sirsi) a62037 
084 0 |a FHJ - Scanning electron microscopy, analytical electron microscopy  |2 ZB 
245 0 0 |a Scanning electron microscopy 1980,4 :   |b Chicago, IL, 21.04.80-25.04.80 : An internatational journal of scanning electron microscopy, related techniques, and applications. 
260 |a AMF-O'Hare, IL :   |b Scanning Electron Microscopy,   |c 1980. 
300 |a III, 220 S. 
490 0 |a Scanning electron microscopy ;   |v 1980,4. 
500 |a englisch 
596 |a 139 
653 |a scanning : microscope 
700 1 |a Johari, O.,   |e Hrsg. 
900 |a S 003531-1980,4'01' 
908 |a Konferenz 
949 |a S 003531-1980,4'01'  |w LC  |c 1  |i 1080006639  |l STACKS  |m IBI-1  |r Y  |s Y  |t INSTB  |u 25/3/2009  |x INST-F  |1 PRINT  |2 KONFERENZ