Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie / Ulrich Matthias Semmler

Saved in:
Semmler, Ulrich Matthias, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2003
II, 132 Seiten
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 4036
Zugleich: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, 2003
formation and diffusion kinetics of defects on semiconductor surfaces
investigation with Besocke and high temperature scanning tunneling microscopy
Abstract

ZB
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