High spatial resolution and three-dimensional measurement of charge density and electric field in nanoscale materials using off-axis electron holography / Fengshan Zheng

Saved in:
Zheng, Fengshan, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 2020
XIX, 182 Seiten
englisch
9783958064768
Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Schlüsseltechnologien / key technologies ; 221
Zugleich: Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, 2020
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ZB
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