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Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie : 20 Tabellen /
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Applied atomic collision physics. 4. Condensed matter.
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Datz, S.
1983
...FGGJ - Ion beam analysis, ion beam solid interaction...
3
Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden /
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