1
Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Silizium mit in-situ Raman-Spektroskopie /
Book
...FHAB - Surface and thin film characterization...
Table of Contents 
2
Betrachtung der Kristallinitätsentwicklung in mikrokristallinem Dünnschicht-Silizium mit in-situ Raman-Spektroskopie [E-Book] /
3
Strukturelle und chemische Charakterisierung von selbst-assemblierten Monolagen organischer Moleküle auf Oberfächen [E-Book] /
4
Strukturelle und chemische Charakterisierung von selbst-assemblierten Monolagen organischer Moleküle auf Oberfächen /
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5
Wachstum metallischer und oxidischer Mehrschichtsysteme (Fe, Co, Fe-Oxid, Ga-Oxid) auf Cu(110)- und CoGa(001)- Oberflächen [E-Book] /
6
Morphologie und Energetik kleiner Bleikristalle untersucht mit Rastertunnel- und Rasterelektronenmikroskopie [E-Book] /
7
Untersuchungen an reinen und mit Wasserstoff bedeckten SiC(100)- Oberflächen mit hochauflösender Elektronenenergieverlustspektroskopie [E-Book] /
8
Plasmaabscheidung von mikrokristallinem Silizium : Merkmale und Mikrostruktur und deren Deutung im Sinne von Wachstumsvorgängen [E-Book] /
9
Plasmagestützte Abscheidung und Charakterisierung von dünnen mehrphasigen Schichten [E-Book] /
10
Epitaktisches Wachstum und strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung von Ru2Si3-Schichten [E-Book] /
11
Entwicklung eines Rastertunnelmikroskops in Kombination mit einer Anlage zur Molekularstrahlepitaxie und Photoemissionsspektroskopie [E-Book]/
12
Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /
13
Neuartige Dünnschichtsysteme auf Basis der intermetallischen Verbindungen CoGa und InPd [E-Book] /
14
Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /
15
Morphologische Entwicklung von Pt (111) bei Pt-Deposition und Ionenstrahlerosion [E-Book] /
16
Photoelektronische Messungen mit der Rastersondenmikroskopie zur Mikroanalyse reiner und modifizierter Halbleiteroberflächen im Elektrolyten [E-Book] /
17
Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge/Si(111)-Oberflächen [E-Book] /
18
Einfluß der Nanostrukturierung von Oberflächen auf das Wachstum dünner Filme [E-Book] /
19
Aufbau eines hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektrometers mit integriertem Rastertunnelmikroskop : potentielle Einsatzmöglichkeiten erläutert am Beispiel der Ostwald-Reifung von Kupferinseln auf Cu(100) und der Reaktionen von Kalium auf Pt(111)-Flächen [E-Book] /
20
Untersuchung der Inselbildung im System SiGe/Si [E-Book] /
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Full text  JuSER