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Untersuchung des Einflusses unterschiedlicher Dotierungen auf die elektronische Struktur von deponierten Einzelfullerenen mittels Rastertunnelspektroskopie [E-Book] /
“...FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy...”

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Rastertunnelmikroskopie und -spektroskopie an deponierten Einzelfullerenen : C60, Ce@C60 und La@C60 [E-Book] /
“...FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy...”

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Rastertunnelmikroskopie an Supraleitern und Fulleren bei tiefen Temperaturen [Microfiche] /
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