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Noncontact atomic force microscopy 2 /
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“...FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy...”
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Noncontact atomic force microscopy /
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Rastertunnelmikroskopie an III-V-Halbleitern : Nanostrukturierung und lokal angeregte Lumineszenz /
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Photoelektronische Messungen mit der Rastersondenmikroskopie zur Mikroanalyse reiner und modifizierter Halbleiteroberflächen im Elektrolyten [E-Book] /
“...FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy...”

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Scanning tunneling microscopy.
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