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Aufbau einer Vierspitzen-Rastertunnelmikroskop/Rasterelektronenmikroskop-Kombination und Leitfähigkeitsmessungen an Silizid Nanodrähten /
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“...FHJ - Scanning electron microscopy, analytical electron microscopy...”
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Erzeugung und Charakterisierung von Nanostrukturen an Oberflächen mit dem Rasterkraftmikroskop.
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