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Sekundärionenmassenspektrometrie und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen: der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen.
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Subject (ZB): “...secondary ion emission...”
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Instrumental surface analysis of geologic materials /
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Subject (ZB): “...secondary ion emission...”
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Secondary ion mass spectrometry: international conference 0004: proceedings : SIMS 0004: proceedings : Osaka, 13.11.1983-19.11.1983.
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Subject (ZB): “...secondary ion emission...”
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Secondary ion mass spectrometry: international conference 0003: proceedings : SIMS 0003: proceedings : Budapest, 30.08.81-05.09.81.
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Subject (ZB): “...secondary ion emission...”
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