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FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy

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Abbildung und Charakterisierung mikromagnetischer Oberflächenstreufelder mit einem neu entwickelten Magnetokraft-Mikroskop [E-Book] /

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Abbildung und Charakterisierung mikromagnetischer Oberflächenstreufelder mit einem neu entwickelten Magnetokraft-Mikroskop [E-Book] /

Göddenhenrich, Thomas
1991

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2

Atomare Diffusionsprozesse auf Pt(111) untersucht mit temperaturvariabler Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

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Atomare Diffusionsprozesse auf Pt(111) untersucht mit temperaturvariabler Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

Bott, Michael
1995

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Atomare Mechanismen der Legierungsbildung an Oberflächen : eine Untersuchung mit dem Rastertunnelmikroskop am Beispiel des Systems Mn/Cu (100) [E-Book] /

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Atomare Mechanismen der Legierungsbildung an Oberflächen : eine Untersuchung mit dem Rastertunnelmikroskop am Beispiel des Systems Mn/Cu (100) [E-Book] /

Flores-Pyttel, Thomas
1996

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Atomare Mechanismen des Wachstums von Edelgasschichten auf Platinoberflächen untersucht mittels temperaturvariabler Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

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Atomare Mechanismen des Wachstums von Edelgasschichten auf Platinoberflächen untersucht mittels temperaturvariabler Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

Horch, Sebastian
1994

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Aufbau einer UHV Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskop : lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen [E-Book] /

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Aufbau einer UHV Kombination von Rasterelektronen- und Rastertunnelmikroskop : lokale Untersuchung der Austrittsarbeit an definierten Oberflächen [E-Book] /

Birkner, Alexander
1994

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Aufbau eines hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektrometers mit integriertem Rastertunnelmikroskop : potentielle Einsatzmöglichkeiten erläutert am Beispiel der Ostwald-Reifung von Kupferinseln auf Cu(100) und der Reaktionen von Kalium auf Pt(111)-Flächen [E-Book] /

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Aufbau eines hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektrometers mit integriertem Rastertunnelmikroskop : potentielle Einsatzmöglichkeiten erläutert am Beispiel der Ostwald-Reifu...

Klünker, Christian
1998

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Aufbau eines Rastertunnelmikroskopes mit integriertem Zylinderspiegelanalysator [E-Book] /

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Aufbau eines Rastertunnelmikroskopes mit integriertem Zylinderspiegelanalysator [E-Book] /

Frohn, Josef
1992

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Bestimmung von absoluten Werten für Kinken- und Stufenenergien aus der Gleichgewichtsform von Inseln [E-Book] /

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Bestimmung von absoluten Werten für Kinken- und Stufenenergien aus der Gleichgewichtsform von Inseln [E-Book] /

Steimer, Jörg Christoph
2001

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Charakterisierung von Nanometer-Partikeln mit Hilfe elektrochemischer in-situ Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

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Breuer, Norbert
1995

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Dynamik von Nanostrukturen auf Ag(111) - eine rastertunnelmikroskopische Untersuchung mit hoher Zeitauflösung [E-Book] /

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Dynamik von Nanostrukturen auf Ag(111) - eine rastertunnelmikroskopische Untersuchung mit hoher Zeitauflösung [E-Book] /

Morgenstern, Karina
1996

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Dynamische Rasterkraftmikroskopie: Untersuchungen zu Funktionsweise und Anwendungsmöglichkeiten [E-Book] /

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Dynamische Rasterkraftmikroskopie: Untersuchungen zu Funktionsweise und Anwendungsmöglichkeiten [E-Book] /

Menslage, Josef
1992

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Dynamisches Verhalten von Nanoclustern auf der Kupfer(111)-Oberfläche [E-Book] /

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Schlößer, Dietmar Christian
1997

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Entwicklung eines Rastertunnelmikroskops in Kombination mit einer Anlage zur Molekularstrahlepitaxie und Photoemissionsspektroskopie [E-Book]/

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Entwicklung eines Rastertunnelmikroskops in Kombination mit einer Anlage zur Molekularstrahlepitaxie und Photoemissionsspektroskopie [E-Book]/

Daniels, Claudia
2000

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Entwicklung eines Systems zur Bildverarbeitung für ein Rastertunnel-Mikroskop und dessen Automatisierung unter besonderer Berücksichtigung der atomar ortsauflösenden Rastertunnel-Spektroskopie [E-Book] /

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Entwicklung eines Systems zur Bildverarbeitung für ein Rastertunnel-Mikroskop und dessen Automatisierung unter besonderer Berücksichtigung der atomar ortsauflösenden Rastertunnel-S...

Schummers, Andreas
1991

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Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie [E-Book] /

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Entwicklung und Anwendung piezoresistiver Brückenelemente als integrierte Sensoren für die Rasterkraftmikroskopie [E-Book] /

Jumpertz, Reiner
1998

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Entwicklung und Aufbau eines Glasfaserinterferometers zur hochauflösenden Auslenkungsdetektion in einem Rasterkraftmikroskop [E-Book] /

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Entwicklung und Aufbau eines Glasfaserinterferometers zur hochauflösenden Auslenkungsdetektion in einem Rasterkraftmikroskop [E-Book] /

Schade, Dirk
1992

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Entwicklung von Sonden für spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie [E-Book] /

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Entwicklung von Sonden für spezielle Verfahren der Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopie [E-Book] /

Lemke, Heiko
1990

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Kalibrierung von Piezo-Stellgliedern für die Rastersondenmikroskopie [E-Book] /

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Kalibrierung von Piezo-Stellgliedern für die Rastersondenmikroskopie [E-Book] /

Kraus, Norbert
1991

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Kombination eines Rastertunnel- und Kraftmikroskopes mit einem Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung kleinster Dünnfilmstrukturen [E-Book] /

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Kombination eines Rastertunnel- und Kraftmikroskopes mit einem Rasterelektronenmikroskop zur Untersuchung kleinster Dünnfilmstrukturen [E-Book] /

Anders, Michael
1990

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Ladungstransport durch graphenschichten und GaAs-Nanodrähte untersucht mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop [E-Book] /

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Ladungstransport durch graphenschichten und GaAs-Nanodrähte untersucht mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop [E-Book] /

Korte, Stefan
2014

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Wirth, Ingo 2 Anders, Michael 1 Bach, Claudia 1 Baier, Axel Sascha 1 Berthe, Rolf 1 Birkner, Alexander 1 more ... Blab, Marcus 1 Bott, Michael 1 Breuer, Norbert 1 Cox, Gerhard 1 Daniels, Claudia 1 Domke, Christiane 1 Ebert, Philipp 1 Emundts, Arndt 1 Flores-Pyttel, Thomas 1 Frohn, Josef 1 Göddenhenrich, Thomas 1 Hannemann, Heike 1 Heinrich, Marcus 1 Hiesgen, Renate 1 Horch, Sebastian 1 Jumpertz, Reiner 1 Kalff, Matthias 1 Kann, Gunther H. 1 Klünker, Christian 1 Korte, Stefan 1 Kraus, Norbert 1 Kästner, Martin 1 Lemke, Heiko 1 Meissner, Dieter 1 see all ... less ...

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FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy FHAB - Surface and thin film characterization 8 FFJB - Surface dynamics 5 FFJ - Surface structure, gas solid interface 4 FNX - Carbon, carbon materials 4 FHJ - Scanning electron microscopy, analytical electron microscopy 3 more ... FJHE - Defects and radiation effects in semiconductors 3 FJKC - III - V semiconductors 3 FGKC - Vacuum deposition, MBE 2 FHA - Materials characterization - general aspects 2 FHE - Imaging methods in materials characterization 2 CNOP - Transport phenomena in electrolytes 1 FCD - Crystal physics 1 FDCH - Defects in metals 1 FEJH - Low dimensional materials, intercalation compounds 1 FFGC - Electron spectroscopy 1 FFGH - Electron emission, field emission 1 FFJE - Molecular surface processes, gas surface interaction, adsorption 1 FGGJ - Ion beam analysis, ion beam solid interaction 1 FGM - Microelectronic technology 1 FGML - Characterization of electronic materials 1 FHEM - Image analysis in microscopy, stereology 1 FHGE - Electron diffraction 1 FJKB - Elemental semiconductors 1 FLE - Superconductor materials 1 TGNE - Control engineering - applications 1 see all ... less ...

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