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Rastertunnelmikroskopie an III-V-Halbleitern : Nanostrukturierung und lokal angeregte Lumineszenz /

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Rastertunnelmikroskopie an III-V-Halbleitern : Nanostrukturierung und lokal angeregte Lumineszenz /

Schwartzkopff, Michael.
1999

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Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge/Si(111)-Oberflächen [E-Book] /

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Rastertunnelmikroskopische und -spektroskopische Untersuchungen an strukturierten Ge/Si(111)-Oberflächen [E-Book] /

Theuerkauf, Nils
1999

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Relation between growth rate, material quality, and device grade condition for intrinsic microcrystalline silicon : from layer investigation to the application to thin-film tandem solar-cells /

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Relation between growth rate, material quality, and device grade condition for intrinsic microcrystalline silicon : from layer investigation to the application to thin-film tandem...

Michard, Stephan Yann
2015

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Relation between growth rate, material quality, and device grade condition for intrinsic microcrystalline silicon : from layer investigation to the application to thin-film tandem solar cells [E-Book] /

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Relation between growth rate, material quality, and device grade condition for intrinsic microcrystalline silicon : from layer investigation to the application to thin-film tandem...

Michard, Stephan Yann
2015

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Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /

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Spektroskopische Charakterisierung von Schichten und Schichtsystemen aus porösem Silicium im Hinblick auf optische und optoelektronische Anwendungen [E-Book] /

Thönissen, Markus
1999

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Spektroskopische Untersuchungen von Reaktionen thermischer Wasserstoffatome an Oberflächen dünner Kohlenstoff Wasserstoff Filme.

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Spektroskopische Untersuchungen von Reaktionen thermischer Wasserstoffatome an Oberflächen dünner Kohlenstoff Wasserstoff Filme.

Biener, J.
1994

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Spin-reorientation transition in epitaxial NixPd1-x fims on Cu(001) : a microscopic analysis /

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Spin-reorientation transition in epitaxial NixPd1-x fims on Cu(001) : a microscopic analysis /

Gottlob, Daniel Marius
2015

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Spin-reorientation transition in epitaxial NixPd1-x fims on Cu(001) : a microscopic analysis [E-Book] /

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Gottlob, Daniel Marius
2015

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Struktur und chemische Erosion dünner Kohlenstoff Wasserstoff und Kohlenstoff(Bor) Wasserstoff Filme.

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Struktur und chemische Erosion dünner Kohlenstoff Wasserstoff und Kohlenstoff(Bor) Wasserstoff Filme.

Schenk, A.
1994

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Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /

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Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopi...

Wittorf, Dirk
1999

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Strukturelle und chemische Charakterisierung von selbst-assemblierten Monolagen organischer Moleküle auf Oberfächen /

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Strukturelle und chemische Charakterisierung von selbst-assemblierten Monolagen organischer Moleküle auf Oberfächen /

Müller, Mirko
2013

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Strukturelle und chemische Charakterisierung von selbst-assemblierten Monolagen organischer Moleküle auf Oberfächen [E-Book] /

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Strukturelle und chemische Charakterisierung von selbst-assemblierten Monolagen organischer Moleküle auf Oberfächen [E-Book] /

Müller, Mirko
2013

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Surface potential of metallic surfaces and self-assembling organic monolayers in various electrolytes [E-Book] /

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Surface potential of metallic surfaces and self-assembling organic monolayers in various electrolytes [E-Book] /

Wang, Junmiao
2016

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Surface potential of metallic surfaces and self-assembling organic monolayers in various electrolytes /

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Surface potential of metallic surfaces and self-assembling organic monolayers in various electrolytes /

Wang, Junmiao
2016

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Untersuchung der Inselbildung im System SiGe/Si [E-Book] /

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Untersuchung der Inselbildung im System SiGe/Si [E-Book] /

Goryll, Michael
1998

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Untersuchung dynamsicher Prozesse bei der Molekularstrahlepitaxie auf Silizium [E-Book] /

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Untersuchung dynamsicher Prozesse bei der Molekularstrahlepitaxie auf Silizium [E-Book] /

Kästner, Martin
1998

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Untersuchungen an reinen und mit Wasserstoff bedeckten SiC(100)- Oberflächen mit hochauflösender Elektronenenergieverlustspektroskopie [E-Book] /

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Untersuchungen an reinen und mit Wasserstoff bedeckten SiC(100)- Oberflächen mit hochauflösender Elektronenenergieverlustspektroskopie [E-Book] /

Balster, Torsten
2000

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Untersuchungen zum elektrochemischen Ätzverhalten von Siliziumoberflächen /

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Untersuchungen zum elektrochemischen Ätzverhalten von Siliziumoberflächen /

Houbertz, Ruth.
1993

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Untersuchungen zum Verhalten nanokristalliner Metallpartikel auf Si mit dem Rastertunnelmikroskop /

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Untersuchungen zum Verhalten nanokristalliner Metallpartikel auf Si mit dem Rastertunnelmikroskop /

Radojkovic, Peter.
1999

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Untersuchungen zum Verschleissverhalten von nitridischen Hartstoffbeschichtungen im Schraubenrotorenbau mittels oberflächenanalytischer Methoden /

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Untersuchungen zum Verschleissverhalten von nitridischen Hartstoffbeschichtungen im Schraubenrotorenbau mittels oberflächenanalytischer Methoden /

Appel, Tamara
1997

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Andrä, Michael Tobias 2 Böttler, Wanjiao 2 Dyck, Tobias 2 Feygenson, Mikhail 2 Fink, Thomas 2 Gottlob, Daniel Marius 2 more ... Green, Matthew Felix Blishen 2 Grychtol, Patrik 2 Matveeva, Maria 2 Michard, Stephan Yann 2 Müller, Mirko 2 Wang, Junmiao 2 Zhang, Chao 2 Özben, Eylem Durgun 2 Alberti, Bernhard 1 Ang, Lay-Kee 1 Appel, Tamara 1 Balster, Torsten 1 Bauer, Markus. 1 Biener, J. 1 Cojocariu, Iulia 1 Costina, Ioan 1 Daniels, Claudia 1 Diercks, Verena Beate 1 Emundts, Arndt 1 Erley, Georg 1 Goryll, Michael 1 Heinrich, Marcus 1 Herger, Roger. 1 Houben, Lothar 1 see all ... less ...

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FHAB - Surface and thin film characterization FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy 12 FGK - Thin film technology, epitaxy 11 EISF - Thin film solar cells 9 FFP - Physics of thin films 8 FCD - Crystal physics 5 more ... FCBH - Crystal structure of specific substances 4 FFA - Surface science, surface physics - general aspects 4 FFPE - Thin film electronic properties, semiconductor interfaces 4 FGN - Nanotechnology 4 FJB - Electric materials 4 FFJ - Surface structure, gas solid interface 3 FFJE - Molecular surface processes, gas surface interaction, adsorption 3 FGKC - Vacuum deposition, MBE 3 CLJE - Catalyst characterization and surface phenomena 2 CLP - Colloid chemistry, surface chemistry 2 CUSE - Raman spectroscopy 2 FCA - Crystallography 2 FFG - Surface electronic effects 2 FFGC - Electron spectroscopy 2 FFPG - Multilayer systems, quantum structures 2 FGJ - Laser and electron beam processing 2 FGKJ - Plasma processing, etching 2 FHCH - Microstructural analysis 2 FHL - Synchrotron radiation techniques 2 FJKB - Elemental semiconductors 2 FJKC - III - V semiconductors 2 FMGB - Morphology, microstructure, alloy constitution 2 PGK - Fusion plasmas, fusion research 2 PGN - Fusion technology, plasma devices 2 see all ... less ...

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