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Quantitative Untersuchung von Defekten auf Oberflächen von III-V-Verbindungshalbleitern mit dem Rastertunnelmikroskop [E-Book] /

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Untersuchung der Kristallgitterdefekte und der Kompensationsmechanismen in hoch siliziumdotiertem GaAs mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

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Untersuchungen von Grenzflächen und Gitterbaufehlern in Galliumarsenid mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

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