Mikroanalyse mit Elektronen- und Ionensonden / von einem Autorenkollektiv ; Hrsg., Brümmer, Otto ... [et al.]

Personal Name(s):	Brümmer, Otto.
Edition:	1. Aufl.
Imprint:	Leipzig : Deutscher Verlag für Grundstoffindustrie, 1978.
Physical Description:	295 p.
Note:	deutsch
Keywords:	microanalysis : textbook
Subject (ZB):	electron microprobe analysis electron spectroscopy Auger electron spectroscopy photoelectron spectroscopy SIMS (secondary ion mass spectroscopy) surface analysis
Classification:	FHAB - Surface and thin film characterization FGGJ - Ion beam analysis, ion beam solid interaction FHJC - Microbeam analysis