Angewandte Oberflächenanalyse : mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie : 20 Tabellen / M. Grasserbauer ; H. J. Dudek ; M. F. Ebel.
Saved in:
Personal Name(s): | Grasserbauer, Manfred. |
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Dudek, Hans Joachim. / Ebel, Maria F. | |
Imprint: |
Berlin :
Springer,
1986.
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Physical Description: |
viii, 300 p. |
Note: |
deutsch |
Subject (ZB): | |
Classification: | |
Shelf Classification: |
ZB | |
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Reading Room Call number: FHA 020 Barcode: 1086002533 Available |