Sitzung des Arbeitskreises Rastermikroskopie. 0007: Vorträge : Würzburg, 02.04.75.
Saved in:
Personal Name(s): | Schaaber, O., editor |
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Imprint: |
Berlin :
Deutscher Verband für Materialprüfung,
1975.
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Physical Description: |
134 S. |
Note: |
deutsch |
Series Title: |
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Sitzung des Arbeitskreises Rastermikroskopie ;
0007. |
Keywords: |
scanning electron microscopy : material testing |
Classification: |
ZB | |
---|---|
Open Stacks Call number: B 053996'01'-007 Barcode: 1083003596 Available |