Messung der Minoritätsträgerlebensdauer in dünnen Silicium Epitaxieschichten.
Saved in:
| Personal Name(s): | Bernt, H. |
|---|---|
| Mueller, J. / Spoehrle, H. P. | |
| Imprint: |
Eggenstein :
Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik,
1979.
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| Physical Description: |
53 S. |
| Note: |
deutsch |
| Series Title: |
Bundesministerium für Forschung und Technologie. Forschungsbericht T ;
79-0179. |
| Keywords: |
silicon film |
| Classification: |
| ZB | |
|---|---|
Open Stacks  Call Number: S 002139-79-0179'01' Barcode: 1080001225
Available
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