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2010
Automatisiertes "wafer level"-Testsystem zur Charakterisierung von siliziumbasierten Chemo- und Biosensoren
Automatisiertes "wafer level"-Testsystem zur Charakterisierung von siliziumbasierten Chemo- und Biosensoren
Saved in:
Personal Name(s): | Poghossian, A. |
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Wagner, H. / Schöning, M. J. | |
Contributing Institute: |
Institut für Bio- und Nanosysteme - Bioelektronik; IBN-2 JARA-FIT; JARA-FIT |
Published in: |
Sensoren und Messysteme 2010, Nürnberg (Germany) 18. - 19. Mai (2010). - 978-3-8007-3260-9. - S. 89 - 92 |
Imprint: |
2010
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Document Type: |
Contribution to a book Contribution to a conference proceedings |
Research Program: |
Grundlagen für zukünftige Informationstechnologien |
Publikationsportal JuSER |
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