This title appears in the Scientific Report :
2010
Reflektometrie zur strukturellen und magnetischen Untersuchung von Schichtsystemen
Reflektometrie zur strukturellen und magnetischen Untersuchung von Schichtsystemen
Saved in:
Personal Name(s): | Rücker, U. |
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Contributing Institute: |
JCNS; JCNS JARA-FIT; JARA-FIT Neutronenstreuung; IFF-5 Streumethoden; IFF-4 |
Published in: |
Synchrotron-Röntgen- und Neutronenstrahlen für die Materialwissenschaften und Werkstofftechnik |
Imprint: |
2010
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Conference: | Aachen, RWTH 2010-10-11 |
Document Type: |
Conference Presentation |
Research Program: |
BioSoft: Makromolekulare Systeme und biologische Informationsverarbeitung Großgeräte für die Forschung mit Photonen, Neutronen und Ionen (PNI) |
Publikationsportal JuSER |
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