This title appears in the Scientific Report :
2003
Quantitative analysis of mobile defects at interfaces
Quantitative analysis of mobile defects at interfaces
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Personal Name(s): | Giesen, M. |
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Contributing Institute: |
Institut für Grenzflächen und Vakuumtechnologien; ISG-3 Institut für biologisch-anorganische Grenzflächen; ISG-4 |
Published in: |
MPI Halle : Instituts für Strukturforschung ; Seminar |
Imprint: |
2003
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Conference: | Halle 2003-04-10 |
Document Type: |
Talk (non-conference) |
Research Program: |
Kondensierte Materie |
Publikationsportal JuSER |
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