This title appears in the Scientific Report :
1999
Strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung halbleitender Ru2Si3-Schichten
Strukturelle, elektrische und optische Charakterisierung halbleitender Ru2Si3-Schichten
Saved in:
Personal Name(s): | Lenssen, D. |
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Carius, R. / Dieker, C. / Guggi, D. / Bay, H. L. / Mantl, S. | |
Contributing Institute: |
Institut für Schicht- und Ionentechnik; ISI |
Published in: |
Frühjahrstagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft |
Imprint: |
1999
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Conference: | Münster 1999-03-22 00:00:00 |
Document Type: |
Poster |
Research Program: |
Ionentechnik |
Publikationsportal JuSER |
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