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Atomic force microscopy for energy research /
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Shen, Cai
2022
“...FHE - Bildgebende Verfahren in der Materialcharakterisierung...”
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Introduction to scanning tunneling microscopy /
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Electrical atomic force microscopy for nanoelectronics /
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Atomic-force microscopy and its applications /
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Methoden der Leitfähigkeitsuntersuchung mittels Rasterkraftmikroskop und deren Anwendung auf Barium Titanat Systeme /
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Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /
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Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films /
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Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy /
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Quantitative scanning tunneling spectroscopy of non-polar III-V compound semiconductor surfaces /
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Ladungstransportmessungen an Si(111) Oberflächen mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop /
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Ladungstransport durch Graphenschichten und GaAs-Nanodrähte untersucht mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop /
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Submolecular imaging with single particle atomic force sensors /
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Scanning probe microscopy for energy research /
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Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications /
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STM beyond vacuum tunneling : scanning tunneling hydrogen microscopy as a route to ultra-high resolution /
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Amplitude modulation atomic force microscopy /
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Atomic force microscopy /
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Electromechanical force microscopy and tip-enhanced raman spectroscopy for polar oxide nanoparticles /
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Scanning probe microscopies beyond imaging : manipulation of molecules and nanostructures /
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Noncontact atomic force microscopy /
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