21
Secondary ion mass spectrometry : International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry. 0006: proceedings : SIMS. 0006: proceedings : Versailles, 13.09.87-18.09.87.
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22
Theoretical methods of texture analysis /
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23
Semiconductor interfaces : formation and properties : International winter school on semiconductor interfaces : formation and properties: workshop, proceedings : Les-Houches, 24.02.87-06.03.87.
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24
Geodäsie im Dienste der Gesellschaft : Deutscher Geodätentag. 0070 : Nürnberg, 03.09.86-06.09.86.
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25
Experimental techniques of texture analysis : Proceedings of a workshop : Clausthal-Zellerfeld, 25.03.85-29.03.85.
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26
Molecular beam epitaxy and heterostructures : Nato Advanced Study Institute on Molecular Beam Epitaxy (mbe) and Heterostructures: proceedings : Erice, 07.03.1983-19.03.1983.
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27
Geodätische Netze in Landesvermessung und Ingenieurvermessung Vol 0002 : Kontaktstudium 1985: Vorträge : Hannover, 02.85.
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28
Proton linear accelerator conference. 1968: proceedings. vol 0002 : Upton, NY, 20.05.1968-24.05.1968.
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29
Proton linear accelerator conference. 1968: proceedings. vol 0001 : Upton, NY, 20.05.1968-24.05.1968.
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