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Atomic force microscopy for energy research /
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Shen, Cai
2022
“...FHE - Bildgebende Verfahren in der Materialcharakterisierung...”
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Introduction to scanning tunneling microscopy /
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Electrical atomic force microscopy for nanoelectronics /
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Atomic-force microscopy and its applications /
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Methoden der Leitfähigkeitsuntersuchung mittels Rasterkraftmikroskop und deren Anwendung auf Barium Titanat Systeme /
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Simultaneous dual-color imaging on single-molecule level on a Widefield microscope and applications /
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Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films /
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Quantitative data processing in scanning probe microscopy : SPM applications for nanometrology /
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Introduction to atomic force microscopy /
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Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials
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Scanning spreading resistance microscopy and its application to passive and active semiconductor device characterization /
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Fluorescence microscopy : from principles to biological applications /
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Fundamentals of atomic force microscopy . 1 . Foundations /
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Quantitative scanning tunneling spectroscopy of non-polar III-V compound semiconductor surfaces /
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Scanning probe microscopy : atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy /
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Investigation of light propagation in thin-film silicon solar cells by dual-probe scanning near-field optical microscopy /
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Submolecular imaging with single particle atomic force sensors /
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Ladungstransport durch Graphenschichten und GaAs-Nanodrähte untersucht mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop /
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4D visualization of matter :
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Ladungstransportmessungen an Si(111) Oberflächen mit einem Multispitzen-Rastertunnelmikroskop /
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