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Rastertunnelmikroskopie an III-V-Halbleitern : Nanostrukturierung und lokal angeregte Lumineszenz /
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“...FHEG - Tunneling microscopy, force microscopy...”
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Mechanismen der Desorption und Entmischung auf Indiumphosphid (110)-Oberflächen bei thermischer Behandlung [E-Book] /
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Quantitative Untersuchung von Defekten auf Oberflächen von III-V-Verbindungshalbleitern mit dem Rastertunnelmikroskop [E-Book] /
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Untersuchungen von Grenzflächen und Gitterbaufehlern in Galliumarsenid mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /
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