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Sekundärionenmassenspektrometrie und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen: der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen.
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Subject (ZB): “...secondary ion emission...”
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Instrumental surface analysis of geologic materials /
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Subject (ZB): “...secondary ion emission...”
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