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Geometrische und elektronische Struktur von Gitterbaufehlern auf der Oberfläche von III-V-Halbleitern [E-Book] /

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Quantitative Untersuchung von Defekten auf Oberflächen von III-V-Verbindungshalbleitern mit dem Rastertunnelmikroskop [E-Book] /

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Untersuchung der Bildung von Defekten und der Diffusionskinetik auf III-V-Halbleiteroberflächen mit Hilfe der Hochtemperatur-Rastertunnelmikroskopie [E-Book] /

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Wachstum versagensrelevanter Oberflächenrisse in oxidischen Keramiken mit und ohne Umwandlungsverstärkung [E-Book] /

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