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Grenzflächenaspekte der Informationstechnik
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Optische Untersuchung des Kristallisationsprozesses ternärer Tellurlegierungen auf der Nanosekundenzeitskala
Weidenhof, V.
1999
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Journal Article
Optische Untersuchung des Kristallisationsprozesses ternärer Tellurlegierungen auf der Nanosekundenzeitskala
Weidenhof, V.
1999
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, 34 (1999) S. DS26.1
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Talk (non-conference)
Untersuchungen und Charakterisierung des Phasenwechsels an GeSbTe-Verbindungen
Friedrich, I.
1999
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Untersuchungen und Charakterisierung des Phasenwechsels an GeSbTe-Verbindungen
Friedrich, I.
1999
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, 34 (1999) S. DS26.2
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Charakterisierung der minimalen Schreib- und Löschzeiten des Phasenwechselmediums Ge2Te5Sb2
Ziegler, S.
1999
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Charakterisierung der minimalen Schreib- und Löschzeiten des Phasenwechselmediums Ge2Te5Sb2
Ziegler, S.
1999
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, 34 (1999) S. DS33.32
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Friedrich, I.
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Weidenhof, V.
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Franz, P.
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Henke, M.
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Wöltgens, H.-W.
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Research Program
Grenzflächenaspekte der Informationstechnik
Contributing Institute
Institut für Grenzflächenforschung und Vakuumphysik; IGV
6
Scientific Report
1999
6
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