Photothermische Deflexions-Spektroskopie als Charakterisierungsmethode für Dünnschichtsolarzellen auf der Basis von amorphem Silizium [E-Book] / Niklas Höhne
Höhne, Niklas, ( Verfasser)
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibliothek, 1998
1 Online-Ressource (94 Seiten)
deutsch
Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3439
Zugleich: Diplomarbeit
photothermal deflection spectroscopy as a method to characterise thin layer solar cells based on amorphous silicon
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JuSER
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