NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database [Datenbank]
The NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Database gives easy access to the energies of many photoelectron and Auger-electron spectral lines. Resulting from a critical evaluation of the published literature, the database contains over 29,000 line positions, chemical shifts, doublet splittings,...
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Availability: |
Licensed for Forschungszentrum Jülich |
Keywords: |
spectral data x-ray photoelectron spectroscopy energy level Auger-electron spectral line |
Imprint: |
Gaithersburg, MD :
National Institute of Standards and Technology (NIST)
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The NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Database gives easy access to the energies of many photoelectron and Auger-electron spectral lines. Resulting from a critical evaluation of the published literature, the database contains over 29,000 line positions, chemical shifts, doublet splittings, and energy separations of photoelectron and Auger-electron lines. A highly interactive program allows the user to search by element, line type, line energy, and many other variables. Users can easily identify unknown measured lines by matching to previous measurements. --------------------------- Die NIST-Datenbank für Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) bietet einfachen Zugang zu den Energien vieler Photoelektronen- und Auger-Elektronen-Spektrallinien. Als Ergebnis einer kritischen Auswertung der veröffentlichten Literatur enthält die Datenbank über 29.000 Linienpositionen, chemische Verschiebungen, Dublettenaufspaltungen und Energieabstände von Photoelektronen- und Auger-Elektronen-Linien. Ein hochgradig interaktives Programm ermöglicht dem Benutzer die Suche nach Element, Linientyp, Linienenergie und vielen anderen Variablen. Der Benutzer kann unbekannte gemessene Linien durch Abgleich mit früheren Messungen leicht identifizieren. |