This title appears in the Scientific Report : 1999 

Advanced characterization tools for thin films in low-E-systems
Weis, H.
Müggenburg, T. / Friedrich, I. / Grosse, P. / Harlitze, L. / Wuttig, M.
Institut für Grenzflächenforschung und Vakuumphysik; IGV
Thin solid films, 351 (1999) S. 184 - 189
Amsterdam [u.a.] Elsevier 1999
184 - 189
Journal Article
Grenzflächenaspekte der Informationstechnik
Thin Solid Films 351
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