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Self-organized processes in semiconductor alloys : [Symposium I, Self-Organized Processes in Semiconductor Alloys - Spontaneous Ordering, Composition Modulation, and 3-D Islanding] held November 29 - December 2, 1999, Boston, Massachusetts, USA [ at the 1999 MRS fall meeting] /
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Introduction to surface roughness and scattering /
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Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie [E-Book] /
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Working smarter with surface analysis techniques.
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1999
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Laser surface interaction : energy absorption and surface structures /
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Einfluß der Nanostrukturierung von Oberflächen auf das Wachstum dünner Filme [E-Book] /
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Untersuchung der Inselbildung im System SiGe/Si [E-Book] /
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Full text  JuSER 
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Aufbau eines hochauflösenden Elektronenenergieverlustspektrometers mit integriertem Rastertunnelmikroskop : potentielle Einsatzmöglichkeiten erläutert am Beispiel der Ostwald-Reifung von Kupferinseln auf Cu(100) und der Reaktionen von Kalium auf Pt(111)-Flächen [E-Book] /
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Untersuchung dynamsicher Prozesse bei der Molekularstrahlepitaxie auf Silizium [E-Book] /
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Spectroscopy for surface science /
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Herstellung und Charakterisierung von YBCO-Schichten und biaxial texturierten Pufferschichten auf technichen Substraten /
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Surfaces /
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Characterization and metrology for ULSI technology : 1998 international conference Gaithersburg, Maryland [23. - 27.] March 1998 : [the 1998 International Conference on Characterization and Metrology for ULSI Technology] /
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Nichtlinear-optische Spektroskopie an Halbleiter-Heterostrukturen [E-Book] /
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Mechanismen der Desorption und Entmischung auf Indiumphosphid (110)-Oberflächen bei thermischer Behandlung [E-Book] /
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Semiconductor nanoclusters : physical, chemical, and catalytic aspects /
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Surface characterization : a user's sourcebook /
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Brune, D.
1997
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Untersuchungen zum Verschleissverhalten von nitridischen Hartstoffbeschichtungen im Schraubenrotorenbau mittels oberflächenanalytischer Methoden /
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Schichtmesstechnik.
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Surface analysis with STM and AFM: experimental and theoretical aspects of image analysis.
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